L'art de faire parler la surface... par TOF-SIMS

La technique du TOF-SIMS permet de caractériser la composition chimique de surface et d’extrême surface d’un échantillon. 

Applications

Spectre de Masse

La technique TOF-SIMS est en mesure de fournir des informations spectrales de masse. 

Image ionique

La technique TOF-SIMS permet d’obtenir des imageries d’éléments et de molécules de surface.

Profilage en profondeur

Le profilage permet de cibler de petites zones et également de faire des profils de profondeur d’enquête sans sélectionner d’éléments d’intérêt spécifiques. Aussi, les faisceaux d’ions en cluster permettent le profilage de matériaux organiques tout en conservant des informations structurellement significatives.

Pourquoi la technique TOF-SIMS ?

  • Analyse des échecs et des causes profondes en cas de délaminage, cloquage, corrosion...
  • Optimisation d'assemblage par collage
  • Observation de dépôts ou de pollution en surface (réalisation de diagnostic élémentaire de la surface)
  • Vérification de la fonctionnalisation de surface d'un produit (amélioration de sa performance : adhérence, accroche mécanique...) 

Pourquoi FILAB ?

Doté d’une équipe de 60 personnes dont 5 docteurs et 7 ingénieurs, FILAB est un laboratoire indépendant, expérimentés dans l’analyse et la caractérisation de surface des matériaux. Notre taille humaine, notre savoir-faire multisectoriel et nos investissements permanents dans les dernières technologies garantissent à nos clients une fiabilité des résultats, un traitement rapide des demandes et accompagnement sur-mesure aux besoins de nos clients.

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Veuillez noter que nos prestations sont exclusivement réservées aux professionnels.
Les + Filab
Une équipe hautement qualifiée
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Une réactivité de réponse et de traitement des demandes
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Un laboratoire accrédité COFRAC ISO 17025
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(Portées disponibles sur www.cofrac.com - N° accréditation : 1-1793)
Un parc analytique complet de 5 200m²
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Un accompagnement sur-mesure
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