L'art de faire parler la surface... par TOF-SIMS
La technique du TOF-SIMS permet de caractériser la composition chimique de surface et d’extrême surface d’un échantillon.
Applications
Spectre de Masse
La technique TOF-SIMS est en mesure de fournir des informations spectrales de masse.
Image ionique
La technique TOF-SIMS permet d’obtenir des imageries d’éléments et de molécules de surface.
Profilage en profondeur
Le profilage permet de cibler de petites zones et également de faire des profils de profondeur d’enquête sans sélectionner d’éléments d’intérêt spécifiques. Aussi, les faisceaux d’ions en cluster permettent le profilage de matériaux organiques tout en conservant des informations structurellement significatives.
Pourquoi la technique TOF-SIMS ?
- Analyse des échecs et des causes profondes en cas de délaminage, cloquage, corrosion...
- Optimisation d'assemblage par collage
- Observation de dépôts ou de pollution en surface (réalisation de diagnostic élémentaire de la surface)
- Vérification de la fonctionnalisation de surface d'un produit (amélioration de sa performance : adhérence, accroche mécanique...)
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Laboratoire de chimie analytique indépendant, doté d’une équipe de docteurs et d’ingénieurs expérimentés, FILAB garantit la fiabilité de vos résultats, assure un traitement rapide des demandes ainsi qu’un accompagnement personnalisé à l’égard de ses clients.
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